Linux环境下NAND/NOR Flash性能测试与优化实践

1. NAND/NOR Flash基础与测试准备

刚接触嵌入式存储时，我也曾被NAND和NOR Flash的区别绕晕。简单来说，NOR像教科书——能随机翻到任意章节（随机读取快），但更新内容要整页重写（擦除慢）；NAND像记事本——只能按顺序写（串行访问），但批量更新效率高（块擦除快）。在Linux下测试这两种Flash，首先要做好三件事：

1.1 硬件识别与分区确认

插上开发板后，先通过cat /proc/mtd查看分区信息。这是我某次调试的记录：

# 典型输出示例
dev:    size   erasesize  name
mtd0: 00080000 00020000 "bootloader"
mtd1: 00400000 00040000 "kernel"
mtd2: 0fb00000 00040000 "rootfs"

关键参数解读：

• erasesize：擦除块大小（NOR通常64KB-256KB，NAND多为128KB-2MB）
• size：分区总大小（注意十六进制换算）

警告：操作前务必备份！误擦关键分区会导致系统无法启动。我曾因忘记备份bootloader，不得不重新烧写整个系统。

1.2 内核模块准备

主流Linux内核已内置MTD测试模块，但需要手动启用：

make menuconfig

按以下路径勾选：

Device Drivers → 
  Memory Technology Device (MTD) support → 
    [*] MTD tests support (标记为M则编译为模块)