STM32读取Flash出现乱码,重新刷入进入HardFault

STM32H5读温度校准值引发HardFault的根因分析与修复实践 在嵌入式开发中,HardFault是最令人头疼的异常之一,背后往往隐藏着内核机制与硬件行为的复杂交互。ARM Cortex-M33内核集成了浮点单元,但FPU若未正确使能,任何浮点指令都会触发UsageFault并最终升级为HardFault。与此同时,访问OTP区域保存的芯片校准时,地址截断或非对齐访问也可能导致精确总线错误。许多开发者在STM32H5上读取内部温度传感器校准值时,就遇到了这种看似“读地址”却崩在浮点指令上的场景。借助IAR调试器的CFSR寄存器判读与栈帧回溯,可以快速定位异常根源并修复问 阅读详情

问题描述
之前是在Flash中写入了一些参数,读取一直是正常的,但是今天修改了一些程序后再次刷入程序,跑的时候却发现写在Flash中的参数崩了。
解决方案
Debug观察Flash中的数据,发现在写参数的扇区中的数据变成了乱码,怀疑是刷入了程序,于是检查了程序的大小对比当前Flash的地址,发现果然是程序的大小超过了写参数的Flash地址的大小。

这里写图片描述
程序总大小 (129520+7152+836+23356)/1024=157KB
这里写图片描述
参数写在扇区5 5个扇区总大小 16+16+16+16+64=128KB<157KB
因此 刷的程序与写参数的内存地址产生了冲突导致出现问题,而不进行修改直接强行刷参数会导致刷进去的程序被强行修改,从而进入HardFault

STM32F103内部Flash存储字库方案:串口下载与Bootloader实现 在嵌入式显示系统中,字库存储是常见的技术挑战。点阵字库通常体积较大,直接编译进代码会占用大量MCU的Flash空间,而使用外部存储器又可能带来速度瓶颈和硬件成本增加。为解决这一问题,可以利用MCU内部Flash的未使用空间,通过串口通信协议将字库数据下载并存储其中。这一方案的核心在于理解Flash存储器的操作原理,包括解锁、擦除、编程和上锁等步骤,并遵循其半字写入的硬件规范。其技术价值在于实现了高速、低成本的字库存储方案,无需外部芯片,读取速度与读取程序代码相当。在应用场景上,该方案不仅适用于中文字库存储, 阅读详情

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花洛兮灬
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